Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS | GM103 | İleri Mikroskop Teknikleri | Seçmeli | 1 | 1 | 6 |
|
Dersin Seviyesi |
Yüksek Lisans |
Dersin Amacı |
Tarama Elektron Mikroskobu (SEM) ve Transmisyon elektron Mikroskobu (TEM)’ e bağlı mikroanalitik ekipmanların çalışma prensipleri hakkında gerekli teorileri öğretmek, bu mikroanalitik ekipmanların kullanımları ile ilgili pratik uygulamalar yaptırmak |
Dersi Veren Öğretim Görevlisi/Görevlileri |
|
Öğrenme Çıktıları |
1 | 1- Akademik düşünme becerilerini içselleştirir. | 2 | 2- Bilimsel araştırma sürecini açıklar | 3 | 3- Öğrenciler bir tezde bulunması gereken genel özellikleri tanır. | 4 | 4- Konusuyla ilgili bilimsel ve akademik çalışmaları izler | 5 | 5- Yaptığı araştırmaya dayalı bir bilimsel raporu istenilen formatta ile hazırlar | 6 | 6- Akademik bir sunum yapma becerisi kazanır. | 7 | Laboratuvar güvenliği hakkında bilgi edinir | 8 | Laboratuvar deneyimi kazanır | 9 | Temel gıda analizlerini uygular | 10 | Temel gıda analiz tekniklerini öğrenir | 11 | Elde ettiği sonuçları yorumlayabilir | 12 | | 13 | |
|
Öğrenim Türü |
Birinci Öğretim |
Dersin Ön Koşulu Olan Dersler |
Yok |
Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar |
Yok |
Dersin İçeriği |
Mikroyapının önemi, elektron mikroskoplarının mikroyapı incelemelerindeki önemi / SEM ve TEM için numune hazırlama/ Numune elektron etkileşimleri sonucu oluşan sinyaller, sinyallerin oluşum derinlikleri ve kullanımı/ X ışınları (karakteristik; sürekli spektrum / Taramalı elektron mikroskopları ve elektron mikroskobunun parçaları /SEM’da Uygulama/ EDX ve WDX ile kimyasal analiz teknikleri ve SEM’da kullanılması/Geçirimli elekron mikroskobu (TEM)/ STEM ve diğer mikroskop teknikleri ile SEM’nun karşılaştırılması/ Farklı numunelerin SEM’da incelenmesi |
Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği |
|
1 | Mikroyapının önemi, elektron mikroskoplarının mikroyapı incelemelerindeki önemi | | | 2 | SEM ve TEM için numune hazırlama | | | 3 | Numune elektron etkileşimleri sonucu oluşan sinyaller, sinyallerin oluşum derinlikleri ve kullanımı | | | 4 | X ışınları (karakteristik; sürekli spektrum) | | | 5 | Taramalı elektron mikroskopları ve elektron mikroskobunun parçaları | | | 6 | SEM de uygulama | | | 7 | EDX ve WDX ile kimyasal analiz teknikleri | | | 8 | ARASINAV | | | 9 | Bu tekniklerin SEM’de kullanılması ve ZAF düzeltmesi/ | | | 10 | Geçirimli elekron mikroskobu (TEM) | | | 11 | STEM (taramalı, geçirimli elek.mik.) ve diğer mikroskop teknikleri ile SEM’nun karşılaştırılması | | | 12 | Farlı numunelerin SEM'de incelenmesi ve yorumlanması | | | 13 | Farklı numunelerin SEM’de incelemesi ve yorumlanması | | | 14 | Ödev sunumları | | | 15 | | | | 16 | | | |
|
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar |
Öğretim üyesin ders notları/ Electron Microscopy and Analysis, PJ Goodhew ve FJ Humphreys, Taylor and Francis, 1992 • Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, J.I. Goldstein et al., Plenum Press, New York, 1992 • Electron Microscopy and Analysis, PJ Goodhew ve FJ Humphreys, Taylor and Francis, 1992 • A Guide to Polishing and Etching of Technical and Engineering Ceramics, D.J. Clinton, Sherwin Rivers Ltd., Stoke-on-Trent, England, 1987 • Electron Beam Analysis of Materials, 1994, MH Loretto, Chapman & Hall. |
Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları |
|
Değerlendirme | |
Ara Sınav | 30 | 100 | TOPLAM | 100 | |
Final Sınavı | 70 | 100 | TOPLAM | 100 | Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 30 | Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 70 | TOPLAM | 100 |
| Dersin Sunulduğu Dil | İngilizce | Staj Durumu | Yok |
|
İş Yükü Hesaplaması |
|
Ara Sınav | 1 | 1 | 1 |
Final Sınavı | 1 | 2 | 2 |
Takım/Grup Çalışması | 5 | 6 | 30 |
Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma | 1 | 18 | 18 |
Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma | 1 | 19 | 19 |
Okuma | 14 | 3 | 42 |
Performans | 14 | 4 | 56 |
|
Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi |
ÖÇ1 | 4 | | | | ÖÇ2 | 4 | 5 | | | ÖÇ3 | 5 | | 5 | | ÖÇ4 | 4 | | | 5 | ÖÇ5 | 4 | | | | ÖÇ6 | 4 | | | | ÖÇ7 | 5 | | | | ÖÇ8 | 5 | | | | ÖÇ9 | 4 | | | | ÖÇ10 | 4 | | | | ÖÇ11 | 4 | | | | ÖÇ12 | 5 | | | | ÖÇ13 | 5 | | | |
|
* Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek |
|
|