BAYBURT ÜNİVERSİTESİ Bilgi Paketi / Ders Kataloğu

Anasayfa Bayburt Üniversitesi Hakkında Derece Programları Öğrenciler için genel bilgiler
Ders Öğretim Planı
Dersin KoduDersin AdıDersin TürüYılYarıyılAKTS
GM103İleri Mikroskop TeknikleriSeçmeli116
Dersin Seviyesi
Yüksek Lisans
Dersin Amacı
Tarama Elektron Mikroskobu (SEM) ve Transmisyon elektron Mikroskobu (TEM)’ e bağlı mikroanalitik ekipmanların çalışma prensipleri hakkında gerekli teorileri öğretmek, bu mikroanalitik ekipmanların kullanımları ile ilgili pratik uygulamalar yaptırmak
Dersi Veren Öğretim Görevlisi/Görevlileri
Öğrenme Çıktıları
11- Akademik düşünme becerilerini içselleştirir.
22- Bilimsel araştırma sürecini açıklar
33- Öğrenciler bir tezde bulunması gereken genel özellikleri tanır.
44- Konusuyla ilgili bilimsel ve akademik çalışmaları izler
55- Yaptığı araştırmaya dayalı bir bilimsel raporu istenilen formatta ile hazırlar
66- Akademik bir sunum yapma becerisi kazanır.
7Laboratuvar güvenliği hakkında bilgi edinir
8Laboratuvar deneyimi kazanır
9Temel gıda analizlerini uygular
10Temel gıda analiz tekniklerini öğrenir
11Elde ettiği sonuçları yorumlayabilir
12
13
Öğrenim Türü
Birinci Öğretim
Dersin Ön Koşulu Olan Dersler
Yok
Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar
Yok
Dersin İçeriği
Mikroyapının önemi, elektron mikroskoplarının mikroyapı incelemelerindeki önemi / SEM ve TEM için numune hazırlama/ Numune elektron etkileşimleri sonucu oluşan sinyaller, sinyallerin oluşum derinlikleri ve kullanımı/ X ışınları (karakteristik; sürekli spektrum / Taramalı elektron mikroskopları ve elektron mikroskobunun parçaları /SEM’da Uygulama/ EDX ve WDX ile kimyasal analiz teknikleri ve SEM’da kullanılması/Geçirimli elekron mikroskobu (TEM)/ STEM ve diğer mikroskop teknikleri ile SEM’nun karşılaştırılması/ Farklı numunelerin SEM’da incelenmesi
Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği
HaftaTeorikUygulamaLaboratuvar
1Mikroyapının önemi, elektron mikroskoplarının mikroyapı incelemelerindeki önemi
2 SEM ve TEM için numune hazırlama
3Numune elektron etkileşimleri sonucu oluşan sinyaller, sinyallerin oluşum derinlikleri ve kullanımı
4 X ışınları (karakteristik; sürekli spektrum)
5Taramalı elektron mikroskopları ve elektron mikroskobunun parçaları
6 SEM de uygulama
7EDX ve WDX ile kimyasal analiz teknikleri
8ARASINAV
9Bu tekniklerin SEM’de kullanılması ve ZAF düzeltmesi/
10 Geçirimli elekron mikroskobu (TEM)
11STEM (taramalı, geçirimli elek.mik.) ve diğer mikroskop teknikleri ile SEM’nun karşılaştırılması
12 Farlı numunelerin SEM'de incelenmesi ve yorumlanması
13Farklı numunelerin SEM’de incelemesi ve yorumlanması
14 Ödev sunumları
15
16
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
Öğretim üyesin ders notları/ Electron Microscopy and Analysis, PJ Goodhew ve FJ Humphreys, Taylor and Francis, 1992 • Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, J.I. Goldstein et al., Plenum Press, New York, 1992 • Electron Microscopy and Analysis, PJ Goodhew ve FJ Humphreys, Taylor and Francis, 1992 • A Guide to Polishing and Etching of Technical and Engineering Ceramics, D.J. Clinton, Sherwin Rivers Ltd., Stoke-on-Trent, England, 1987 • Electron Beam Analysis of Materials, 1994, MH Loretto, Chapman & Hall.
Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları
Değerlendirme
Yarıyıl (Yıl) İçi EtkinlikleriAdetDeğer
Ara Sınav30100
TOPLAM100
Yarıyıl(Yıl) Sonu EtkinliklerAdetDeğer
Final Sınavı70100
TOPLAM100
Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri30
Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri70
TOPLAM100
Dersin Sunulduğu Dil
İngilizce
Staj Durumu
Yok
İş Yükü Hesaplaması
EtkinliklerSayısıSüresi (saat)Toplam İş Yükü (saat)
Ara Sınav111
Final Sınavı122
Takım/Grup Çalışması5630
Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma11818
Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma11919
Okuma14342
Performans14456
TOPLAM İŞ YÜKÜ (saat)168
Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi

1

2

3

4
ÖÇ14   
ÖÇ245  
ÖÇ35 5 
ÖÇ44  5
ÖÇ54   
ÖÇ64   
ÖÇ75   
ÖÇ85   
ÖÇ94   
ÖÇ104   
ÖÇ114   
ÖÇ125   
ÖÇ135   
* Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek