| Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS | | MM245 | Malzeme Karakterizasyon Teknikleri | Seçmeli | 1 | 1 | 6 |
|
| Dersin Seviyesi |
| Yüksek Lisans |
| Dersin Amacı |
| Mikroskobik (optik ve elektron), termal, difraksiyon ve spektroskobik yöntemlerinin temel ilkelerini öğrenerek malzeme karakterizasyonunda verilerin nasıl kullanılacağını kavramak |
| Dersi Veren Öğretim Görevlisi/Görevlileri |
| Dr. Öğr. Üyesi Erdal İĞMAN |
| Öğrenme Çıktıları |
| 1 | Malzeme karakterizasyonun gerekliliğini, temel ilkelerini ve sınıflandırılmasını anlar. | | 2 | Optik mikroskobun yapısını, bileşenlerini ve görüntüleme modlarını öğrenir. | | 3 | Optik ve elektron mikroskobun farkını anlar. | | 4 | X-ışınlarının madde ile etkileşimi öğrenerek kristal yapıyı nasıl analiz edeceğini bilir. | | 5 | Malzemenin yapısal özelliklerini öğrenmek için hangi spektroskobik yöntemi kullanacağını anlar. |
|
| Öğrenim Türü |
| Birinci Öğretim |
| Dersin Ön Koşulu Olan Dersler |
| Yok |
| Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar |
| Yok |
| Dersin İçeriği |
| Malzeme karakterizasyonuna giriş ve karakterizasyon yöntemlerinin sınıflandırılması, Mikroskobik yöntemler; Optik mikroskop,Taramalı elektron mikroskobu (SEM), Geçirimli elektron mikroskobu (TEM) ve çalışma prensipleri. Mikroskobik yöntemlerin karşılaştırılması. X-ışını difraksiyon (XRD) yöntemi; Kalitatif ve Kantitatif Analiz Yöntemleri (XRF, EDX ve WDX). Termal analiz yöntemleri (TG, DTA, DSC). Spektroskobik yöntemler; Fourier dönüşümlü optik ölçümler (FTIR), RAMAN Spektroskopisi ve UV-VIS Spektroskopisi. |
| Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği |
|
| 1 | Malzeme karakterizasyonuna giriş | Yok | Yok | | 2 | Karakterizasyon yöntemlerinin sınıflandırılması | Yok | Yok | | 3 | Optik mikroskobunun yapısı ve özellikleri | Yok | Yok | | 4 | Optik mikroskop görüntüleme modları | Yok | Yok | | 5 | Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve çalışma prensibi | Yok | Yok | | 6 | Geçirimli elektron mikroskobu (TEM) ve çalışma prensibi | Yok | Yok | | 7 | Elektron mikroskop görüntüleme, analizi ve karşılaştırması | Yok | Yok | | 8 | Arasınav | Yok | Yok | | 9 | X-ışınlarının özellikleri ve üretilmesi | Yok | Yok | | 10 | X-ışınlarının madde ile etkileşimi ve X-ışını difraksiyonu (XRD) | Yok | Yok | | 11 | Kalitatif ve Kantitatif Analiz Yöntemleri (XRF, EDX ve WDX) | Yok | Yok | | 12 | Termal analiz yöntemleri | Yok | Yok | | 13 | Spektroskobik yöntemler; UV-VIS Spektroskopisi | Yok | Yok | | 14 | Fourier Dönüşümü Kızılötesi Spektroskopisi (FTIR) | Yok | Yok | | 15 | Raman Spektroskopisi | Yok | Yok |
|
| Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar |
| MODERN FİZİK TAKVİYELİ MALZEME KARAKTERİZASYONU ve TEMEL İLKELERİ Prof.Dr. Z. Engin ERKMEN |
| Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları |
|
| Değerlendirme | |
| Ara Sınav | 1 | 100 | | TOPLAM | 100 | |
| Final Sınavı | 1 | 100 | | TOPLAM | 100 | | Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | | Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 | | TOPLAM | 100 |
| | Dersin Sunulduğu Dil | | Türkçe | | Staj Durumu | | Yok |
|
| İş Yükü Hesaplaması |
|
| Ara Sınav | 1 | 1 | 1 |
| Final Sınavı | 1 | 2 | 2 |
| Derse Katılım | 14 | 3 | 42 |
| Problem Çözümü | 14 | 2 | 28 |
| Bireysel Çalışma | 14 | 3 | 42 |
| Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma | 1 | 10 | 10 |
| Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma | 1 | 20 | 20 |
| Ev Ödevi | 14 | 2 | 28 |
|
| Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi |
| ÖÇ1 | 3 | 2 | 2 | 3 | 3 | 2 | | ÖÇ2 | 3 | 2 | 2 | 3 | 2 | 2 | | ÖÇ3 | 4 | 2 | 2 | 3 | 3 | 3 | | ÖÇ4 | 4 | 2 | 3 | 2 | 3 | 3 | | ÖÇ5 | 4 | 2 | 3 | 3 | 3 | 3 |
|
| * Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek |
 |
| |